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  • SurfaceSeer S TOF-SIMS飛行時間二次離子質譜儀
    SurfaceSeer S TOF-SIMS飛行時間二次離子質譜儀

    產品型號

    SurfaceSeer S TOF-SIMS

    廠商性質

    生產廠家

    更新時間

    2026-07-31

    瀏覽次數

    156

    產品描述

    SurfaceSeer S 飛行時間二次離子質譜儀 (TOF-SIMS) 面向科研與工業質控，具備 ppm 級表面靈敏度，采用超低損傷脈沖離子束技術，可分析導電 / 絕緣樣品，用于薄膜質控、界面分析、表面改性、催化、生物材料表征。支持正負 SIMS 檢測，可選標準譜庫
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